超高速で小径カテーテル等の表面も対象とした外観検査・傷欠陥検査装置の誕生です。
製造元
大石測器株式会社
http://www.ohishi-sokki.jp/
特許取得で検出技術の革新性が証明されました。
今までの技術では不可能だった傷の検出が可能です。
”脱・目視検査”をお考えの方にお勧めする検査装置です。
納入先使用例
検出可能例
その他(μ Defect方式時)
非接触スリップリング搭載(当社開発・特許申請済み)